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FT Tester

V93000

製造商:Advantest
適用產品:Logic、SoC、RF
型號:PS1600、EXA Scale

業界熱門的SoC/SiP ATE測試機。

提供高速、多通道、多工與高擴充性標準共用平台,無需經常變更測試機種。 不論是邏輯訊號、混合訊號、類比訊號甚至是射頻訊號都可整合在此平台做測試生產。 它模組化的設計,讓設備不會因為整合後而加大平台面積。

全新 V93000 EXA Scale™ SoC 測試系統適用於高達百億億次效能等級的高階數位 IC。該系統的新測試頭採用了 Xtreme Link™ 技術以及 EXA Scale 通用數位和電源卡,可實現新的測試方法

T2000 Series 

製造商:Advantest
適用產品:Logic 、SoC
型號:T2000 LS、T2000EPP

在當前產品快速發展與變化的時代,SoC 元件需求少量多樣,同時封裝產品高度整合製程方法,讓同樣一顆積體電路具備更多功能,與此同時,晶片產品設計者也需要在短時間內努力滿足更換測試功能開發。

T2000系列能夠在最短時間提供客戶需求的測試條件,達到快速設計、生產、製造、測試、同時提供高速產品測試及高性價比,以滿足客戶需求。

Diamond-X

製造商:COHU
適用產品:Logic、SoC、RF、LCD Driver
型號:DX

為滿足設計中心和工程實驗室的需求,將大型測試系統予以縮小成桌上型並能提供一般標準型ATE的功能, 節省並減少設計中心的空間需求,包含電、氣等需求亦一併降低,讓設計師便於操作與驗證,同時仍能提供高引腳數最終測試, 支援邏輯訊號、混合訊號、類比訊號以及射頻訊號等等測試需求。

ETS-800 

製造商:Teradyne
適用產品:Logic
型號:ETS-800 HP

提供高階車用測試系統,消除了多測試數造成的複雜干擾因素,從而提高同步測試數,達到高品質、高產出量以及穩定測試, 此系統具有全功能測試能力,在 PCI Express 設計基礎下,達到彈性的配置模式與靈活的測試架構, 提供四個測試扇區,提高並行測試數,以及高壓電以達到高效產出要求。

UltraFLEX

製造商:Teradyne
適用產品:Logic、SoC、RF
型號:UltraFLEX-SC、UltraFLEX-HD、UFlexPlus

採用標準化系統介面設計,提供彈性的測試板位應用以及便利的擴充性。為業界熱門的SoC測試系統,支援邏輯訊號、混合訊號、類比訊號以及射頻訊號等等測試需求。

UltraFLEX plus 透過增加工位數,減少多工位測試時間提高平行測試效率,滿足測試需求。全新的測試介面板(DIB) 架構提高了關鍵測量的準確性和一致性。創新的PACE™ 運行架構與多核心系統控制器能夠維持板卡高效、協調工作提高系統產能。Broadside™ 應用介面與傳統的ATE 相比,Broadside DIB 結構,將板卡較原先結構旋轉了90 度,這意味著每個工位,都能夠獲得與之相符的訊號傳輸路徑。

J750 Ex-HD Family 

製造商:Teradyne
適用產品:Logic、MCU
型號:J750Ex、J750HD

該系統被廣泛使用於各種微控制器,FPGA和數位音頻/基帶產品進行經濟的高效測試,並提供一整套晶圓分類和最終測試的生產介面解決方案。

晶兆成提供客戶彈性、大量、穩定與快速的生產需求以及專業技術支援服務。

連絡方式
  • TEL:886-3-5982828
  • FAX:886-3-5972723
  • 新竹縣湖口鄉新竹工業區文化路20號

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