零件平均測試方法(PAT)實現零缺陷

高規格測試環境與儲存

任何一顆微細的灰塵，都會造成汽車零件的損害；任何一個輕微的汙染，就有可能危害到汽車的使用年限，甚至造成車輛行駛中不可預知的災害發生。

針對車用產品的生產機台，晶兆成透過各種改善將汙染與灰塵隔絕在機台之外，確保生產過程中晶片都在超潔淨環境中測試。
除了測試機台的無汙染環境，為避免等待生產的產品出現汙染與氧化，晶兆成設立了大量的氮氣櫃儲存空間，確保客戶的重要產品能在穩定的環境中存放。

氣態分子汙染物(AMC, Airborne Molecular Contaminants)與化學分子如果在測試環境中超過規格濃度，會造成產品不可預期的損害，且在一般測試中無法偵測出來。為了避免此類缺陷的產生，晶兆成定期做無塵室氣態分子汙染物檢測， 且對於特殊機台的材料方面，更會做化學分子的釋出監測，確保生產環境的品質安全。

零缺陷是晶兆成品質目標，因此在生產過程中會確保不會漏出任何一個缺陷產品給客戶。在出貨前，透過晶圓測試段100% 自動晶片檢測機(AVI, Automatic Visual Inspection)與最終測試段100% 外觀檢測機(LS, Lead Scan)的檢驗，實現出給客戶的產品都能達到零缺陷的品質目標。