製造商：Advantest
適用產品：Logic、SoC、RF
型號：PS1600、EXA Scale
業界熱門的SoC/SiP ATE測試機。
提供高速、多通道、多工與高擴充性標準共用平台，無需經常變更測試機種。
不論是邏輯訊號、混合訊號、類比訊號甚至是射頻訊號都可整合在此平台做測試生產。
它模組化的設計，讓設備不會因為整合後而加大平台面積。
全新 V93000 EXA Scale™ SoC 測試系統適用於高達百億億次效能等級的高階數位 IC。該系統的新測試頭採用了 Xtreme Link™ 技術以及 EXA Scale 通用數位和電源卡，可實現新的測試方法
製造商：Advantest
適用產品：Logic 、SoC
型號：T2000 LS、T2000EPP
在當前產品快速發展與變化的時代，SoC 元件需求少量多樣，同時封裝產品高度整合製程方法，讓同樣一顆積體電路具備更多功能，與此同時，晶片產品設計者也需要在短時間內努力滿足更換測試功能開發。
T2000系列能夠在最短時間提供客戶需求的測試條件，達到快速設計、生產、製造、測試、同時提供高速產品測試及高性價比，以滿足客戶需求。
製造商：COHU
適用產品：Logic、SoC、RF、LCD Driver
型號：DX
為滿足設計中心和工程實驗室的需求，將大型測試系統予以縮小成桌上型並能提供一般標準型ATE的功能，
節省並減少設計中心的空間需求，包含電、氣等需求亦一併降低，讓設計師便於操作與驗證，同時仍能提供高引腳數最終測試，
支援邏輯訊號、混合訊號、類比訊號以及射頻訊號等等測試需求。
製造商：Teradyne
適用產品：Logic
型號：ETS-800 HP
提供高階車用測試系統，消除了多測試數造成的複雜干擾因素，從而提高同步測試數，達到高品質、高產出量以及穩定測試， 此系統具有全功能測試能力，在 PCI Express 設計基礎下，達到彈性的配置模式與靈活的測試架構， 提供四個測試扇區，提高並行測試數，以及高壓電以達到高效產出要求。
製造商：Teradyne
適用產品：Logic、SoC、RF
型號：UltraFLEX-SC、UltraFLEX-HD、UFlexPlus
採用標準化系統介面設計，提供彈性的測試板位應用以及便利的擴充性。為業界熱門的SoC測試系統，支援邏輯訊號、混合訊號、類比訊號以及射頻訊號等等測試需求。
UltraFLEX plus 透過增加工位數，減少多工位測試時間提高平行測試效率，滿足測試需求。全新的測試介面板(DIB) 架構提高了關鍵測量的準確性和一致性。創新的PACE™ 運行架構與多核心系統控制器能夠維持板卡高效、協調工作提高系統產能。Broadside™ 應用介面與傳統的ATE 相比，Broadside DIB 結構，將板卡較原先結構旋轉了90 度，這意味著每個工位，都能夠獲得與之相符的訊號傳輸路徑。
製造商：Teradyne
適用產品：Logic、MCU
型號：J750Ex、J750HD
該系統被廣泛使用於各種微控制器，FPGA和數位音頻/基帶產品進行經濟的高效測試，並提供一整套晶圓分類和最終測試的生產介面解決方案。
晶兆成提供客戶彈性、大量、穩定與快速的生產需求以及專業技術支援服務。
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